LUPHOScan 50 SL je ideální pro kontrolu velkosériové výroby malých čoček, přičemž mezi hlavní výhody systému patří ultra rychlé měření a schopnost měřit geometrické vlastnosti čoček. Dokáže měřit optický povrch a geometrické vlastnosti, jako je kruhovitost mezikruží povrchu, rovinnost plochého povrchu čočky a umístění optického povrchu vůči těmto vlastnostem. 

• velmi vysoká a opakovatelná přesnost - 30 nm PV (3σ)

• nejlepší dostupná stabilita - odchylka výkonu < ± 15 nm (3σ), odchylka PV < ± 1,5 nm (3σ)
• analýza geometrických prvků - například mezikruží a průměry hran vůči sobě navzájem nebo k optickému povrchu.
• tenké průhledné substráty - do tloušťky 100 μm
• vysoká rychlost měření pro skutečné 3D - < 120 sec. - Optický povrch a geometrické prvky jako plochy, mezikruží a poloměry hran, < 60 sec. - pouze optický povrch, záleží na geometrii a laterálním rozlišení